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半导体专业检测设备

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  • 晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆厚度测量仪晶圆翘曲度测量仪无图晶圆几何量测系统晶圆形貌测量系统晶圆几何形貌测量仪
    2024/4/24 11:19:0584

  • 晶圆三维形貌测量设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    中图仪器WD4000晶圆三维形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LT...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆检测设备晶圆测量设备三维形貌测量仪晶圆形貌测量设备无图晶圆几何量测系统
    2024/4/24 10:43:33120

  • 无图晶圆厚度翘曲度粗糙度测量机 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    中图仪器WD4000无图晶圆厚度翘曲度粗糙度测量机通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    无图晶圆几何量测系统晶圆形貌测量系统晶圆测量机晶圆测量设备晶圆粗糙度测量机
    2024/4/24 9:59:55142

  • 国产晶圆几何形貌量测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000国产晶圆几何形貌量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV、BOW、WARP、在高效测量测同时有效...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆几何形貌量测设备晶圆几何量测设备晶圆形貌量测设备晶圆几何量测系统晶圆量测设备
    2024/4/24 8:59:54201

  • 晶圆平整度翘曲度测量设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆平整度翘曲度测量设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆测量设备晶圆平整度测量设备晶圆翘曲度测量设备晶圆几何量测设备晶圆形貌测量设备
    2024/4/24 8:33:48238

  • 半导体晶圆量测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    中图仪器WD4000半导体晶圆量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体晶圆量测系统无图晶圆形貌测量设备晶圆几何形貌测量系统晶圆形貌测量系统半导体晶圆检测设备
    2024/4/24 7:48:48231

  • 无图晶圆几何形貌测量系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    无图晶圆形貌测量系统晶圆几何形貌测量系统晶圆形貌测量设备晶圆形貌检测晶圆测量设备
    2024/4/24 7:18:16233

  • 晶圆厚度高精度测量系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆厚度高精度测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、B...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆厚度测量系统晶圆几何量测系统晶圆形貌测量系统晶圆厚度测量半导体晶圆测量
    2024/4/23 21:46:01242

  • 晶圆测量设备几何形貌测量系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆测量设备几何形貌测量系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆测量设备晶圆几何测量系统晶圆形貌测量系统晶圆几何量测设备晶圆形貌测量设备
    2024/4/23 21:03:41274

  • 无图晶圆几何形貌测量设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000无图晶圆几何形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆形貌测量设备晶圆几何测量设备晶圆测量设备无图晶圆几何测量设备无图晶圆形貌测量设备
    2024/4/23 20:34:53283

  • 半导体量检测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000半导体量检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体量测设备半导体检测设备半导体晶圆检测设备半导体晶圆量测系统半导体几何量测系统
    2024/4/23 19:58:09289

  • 晶圆形貌测量设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆形貌测量设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。能实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TT...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    无图晶圆几何量测系统无图晶圆形貌测量设备晶圆测量设备晶圆几何形貌测量设备晶圆测量系统
    2024/4/23 19:16:06297

  • 晶圆厚度测量系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆厚度测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆厚度形貌测量系统无图晶圆几何量测系统晶圆几何形貌测量系统晶圆厚度量测设备晶圆表面形貌测量系统
    2024/4/23 19:02:08396

  • 晶圆表面形貌检测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000系列晶圆表面形貌检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，自动测量Wafer厚度、表面粗...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆检测设备晶圆形貌检测设备半导体晶圆检测设备晶圆几何量测设备无图晶圆几何量系统
    2024/4/23 18:11:10343

  • 半导体晶圆检测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000系列半导体晶圆检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，能实现晶圆厚度、TTV、LTV、...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体检测设备晶圆检测设备晶圆形貌测量设备晶圆几何量测设备半导体晶圆测量设备
    2024/4/23 17:51:52357

  • 半导体晶圆厚度测量系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000半导体晶圆厚度测量系统采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体晶圆测量系统晶圆厚度测量系统晶圆检测机无图晶圆几何量测系统晶圆厚度测量设备
    2024/4/23 17:13:06352

  • 半导体晶圆表面形貌检测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000系列半导体晶圆表面形貌检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、L...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体晶圆检测设备晶圆检测设备晶圆形貌检测设备晶圆表面形貌检测设备晶圆检测机
    2024/4/23 16:56:36369

  • 晶圆几何形貌自动检测机 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000系列晶圆几何形貌自动检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆检测机晶圆形貌检测机晶圆几何形貌检测机晶圆自动检测机无图晶圆几何量测系统
    2024/4/23 16:40:05371

  • 晶圆表面形貌测量设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆表面形貌测量设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆形貌测量设备晶圆表面粗糙度测量设备晶圆表面形貌测量晶圆形貌测量系统半导体晶圆检测
    2024/4/23 15:42:58413

  • WD4000无图晶圆几何量测系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：
    WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳...
    型号： 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆几何量测系统无图晶圆检测机晶圆检测系统半导体晶圆检测无图晶圆检测设备
    2024/4/23 15:32:07456
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